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<DFRWS USA 2019> - 3일차
【 2019. 7. 16. 】
□ Session III: IoT Forensics
◦ 좌 장 : Frank Adelstein, Ph.D. (NFA Digital)
◦ 발표 2
- 주제 : 물에 의해 손상된 모바일기기의 포렌식 분석
(원제 : Forensic analysis of water damaged mobile devices)
- 발표자 : Aya Fukami
- 발표내용
△ 물에 의해 손상된 모바일기기를 기존의 Chip Off 방법이나 부품을 동일한 사양의 기기에 이식하는 방법을 지양하고 포렌식 의뢰된 원래의 모바일기기를 작동 상태로 복원하는 방법 제시함
△ 물에 의해 손상된 기기는 ECM(electrochemical migration) 일어나는데 각 부품별로 제조사별, 각기 다른 환경(물에 노출된 시간 등)에서 ECM의 상태를 테스트, 전기, 화학적 상태 변동에 대해 관찰, 기록함
△ 물에 의해 손상된 부품의 ECM 상태에 대한 진단방법과 복원방법에 대해 제시함
△ 금속부식의 상태를 진단하고 부팅과 관련 부품인지에 대한 판단후 금속부식 생성물을 제거하여 의뢰된 기기를 작동 상태로 복원함
paper-forensic_analysis_of_water_damaged_mobile_devices.pdf
3.74MB
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