반응형
<DFRWS USA 2019> - 3일차
【 2019. 7. 16. 】
□ Session III: IoT Forensics
◦ 좌 장 : Frank Adelstein, Ph.D. (NFA Digital)
◦ 발표 4
- 주제 : IoT 장치 조사를 위한 전자기 측면 채널 분석 활용
(원제 : Leveraging Electromagnetic Side-Channel Analysis for the Investigation of IoT Devices)
* DFRWS USA 2019 ‘Best Student Paper’ 선정
- 발표자 : Asanka Sayakkara (University College Dublin)
- 발표내용
△ IoT 기기 자체에 남아 있는 데이터 확보하기 위해 IoT 기기의 Live 조사 중 전자기 방사선 방출을 통해 점검하는 방법을 제시함
△ EM-SCA(electromagnetic side-channel analysis) 기법으로 IoT 장치의 내부에서 작동중인 소프트웨어 파악와 암호알고리즘 분류를 테스트함
△ IoT기기의 펌웨어의 악성코드 감염여부를 EM-SCA (Machine Learning과 연계) 기법으로 탐지 가능함을 입증함
△ IoT 장치 데이터 조사를 위한 디지털포렌식 분석관을 위한 현장에서 실시간 사용 가능한 확장 가능한 EM-SCA 분석 소프트웨어 프레임워크 구현의 필요성 확인
반응형
'Digital Forensics' 카테고리의 다른 글
| DFRWS USA 2019 - 개념적 검색(Concept Searching) (0) | 2019.10.18 |
|---|---|
| DFRWS USA 2019 - 인간행동 정보를 활용한 포렌식 (0) | 2019.10.18 |
| DFRWS USA 2019 - AI 스피커 디지털포렌식 (3) | 2019.10.18 |
| DFRWS USA 2019 - 침수된 스마트폰 포렌식 (0) | 2019.10.18 |
| DFRWS USA 2019 - 닌텐도 3DS 포렌식 (0) | 2019.10.17 |
